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        高(gao)纯(chun)钛(tai)靶

        材(cai)质(zhi):TA1(Grade1)、TA2(Grade2)

        执(zhi)行标(biao)准: SEMI F47-0321、ASTM B348-22、GB/T 3620.1-2023、JIS H 4650:2022

        浏(liu)览(lan)次数:

        发(fa)布(bu)日期(qi): 2022-09-10 12:04:09

        全国热(re)线(xian): 0917-3376170

        详(xiang)细(xi)描述(shu) / Detailed description

        1、高(gao)纯(chun)钛(tai)靶

        高(gao)纯钛(tai)靶指(zhi)纯度≥ 99.95%(3N5级(ji)) 的(de)钛(tai)溅射(she)靶材,杂(za)质(zhi)总(zong)量(liang)≤ 500 ppm,关(guan)键元素(Fe、O、C等(deng))需精(jing)确(que)控制(zhi)。根据(ju)应用(yong)需(xu)求,纯度(du)可(ke)提(ti)升(sheng)至(zhi) 99.999%(5N级(ji)),主(zhu)要用(yong)于(yu)对(dui)薄(bao)膜(mo)性能要求严(yan)苛(ke)的半(ban)导体、光学及新能(neng)源(yuan)领域。

        2、性(xing)能突(tu)破(po)性(xing)指(zhi)标(biao)

        参数(shu)3N5级(ji)(典型值(zhi))4N5级(ji)(高端值)测(ce)试方(fang)法
        纯(chun)度(du)≥99.95%≥99.995%GDMS/ICP-MS
        Fe含量(liang)≤50 ppm≤5 ppm辉光(guang)放电质(zhi)谱(GDMS)
        O含(han)量≤300 ppm≤100 ppm惰(duo)性气体熔融(rong)-红(hong)外(wai)检(jian)测(ce)
        密(mi)度≥4.5 g/cm³≥4.506 g/cm³阿(a)基(ji)米德法
        晶(jing)粒(li)尺寸(cun)≤50 μm≤20 μmSEM/EBSD
        电(dian)阻率(薄(bao)膜)420 nΩ·m400 nΩ·m四(si)探针(zhen)法(fa)

        3、极(ji)限制(zhi)造(zao)工(gong)艺(yi)

        3.1 超(chao)纯(chun)钛(tai)制(zhi)备

        电子(zi)束悬浮(fu)区熔炼(FZ-EM):

        真(zhen)空度≤ 1×10⁻⁵ Pa,钛(tai)棒悬浮(fu)熔(rong)炼避(bi)免坩埚(guo)污(wu)染(ran),Fe残留量(liang)可降至 1 ppm 以下(xia)。

        定向凝固技术实现(xian)单(dan)晶(jing)生长(zhang),消(xiao)除晶(jing)界(jie)杂质(zhi)偏聚。

        3.2 靶(ba)材(cai)致(zhi)密(mi)化

        热等(deng)静(jing)压(HIP)强(qiang)化(hua):

        温(wen)度 900°C + 压(ya)力 150 MPa + 氩气环(huan)境,闭合微孔使密(mi)度趋近理论值(zhi)。

        气孔率(lv)从常(chang)规(gui)工(gong)艺的 0.5% 降至 0.01%,溅(jian)射(she)颗(ke)粒飞(fei)溅减(jian)少 80%。

        3.3 表(biao)面超(chao)精(jing)处(chu)理(li)

        磁流变(bian)抛(pao)光(MRF):

        使用(yong)含(han)纳(na)米(mi)金(jin)刚石(shi)颗(ke)粒(li)的磁流(liu)变(bian)液,表(biao)面粗(cu)糙度(du)达(da) Ra≤0.1 μm,降(jiang)低薄膜(mo)针孔(kong)率(lv)。

        配(pei)合 等离(li)子体(ti)活化清洗(xi),表(biao)面氧吸附(fu)量减少(shao) 70%。

        4、行业(ye)标(biao)准演进

        标准(zhun)体(ti)系(xi)关键(jian)更(geng)新(2020-2023)
        SEMISEMI F47-0321:新(xin)增(zeng)对3D NAND用(yong)钛(tai)靶的Fe含(han)量(liang)要(yao)求(qiu)(≤3 ppm)
        ASTMASTM B348-22:引(yin)入超高纯(chun)钛(5N级(ji))的(de)氧含(han)量分(fen)级(ji)(O1级≤100 ppm)
        中国国(guo)标(biao)GB/T 3620.1-2023:新(xin)增电子(zi)级(ji)钛(tai)材的(de)Cl、S控(kong)制标准(zhun)(均(jun)≤5 ppm)
        JISJIS H 4650:2022:强(qiang)化对(dui)溅射靶(ba)材晶(jing)粒取(qu)向的检测要(yao)求(极(ji)图分析(xi))

        5、新兴(xing)应(ying)用(yong)场(chang)景

        5.1 第三代(dai)半导体

        GaN HEMT器(qi)件:

        钛靶(ba)用于(yu)制(zhi)备 Al/Ti/W 多(duo)层(ceng)欧姆接触(chu),接(jie)触(chu)电(dian)阻降至(zhi) 0.3 Ω·mm。

        4N5级钛(tai)靶(ba)的Fe控制可(ke)降(jiang)低界面(mian)态密度(du),提(ti)升(sheng)器件高(gao)频特(te)性(>100 GHz)。

        5.2 量(liang)子(zi)计算(suan)

        超(chao)导量子比(bi)特:

        5N级(ji)钛(tai)膜用于(yu)制(zhi)备(bei) 约瑟夫(fu)森结势(shi)垒(lei)层,临(lin)界电流密度波(bo)动≤ 2%。

        超(chao)低(di)氧含量(≤50 ppm)保(bao)障(zhang)超导能(neng)隙稳(wen)定(ding)性。

        5.3 核(he)聚(ju)变(bian)装(zhuang)置(zhi)

        第一(yi)壁(bi)涂(tu)层(ceng):

        高纯(chun)钛(tai)膜(mo)(厚(hou)度≥50 μm)作为(wei)氢(qing)同位素渗透阻挡(dang)层,氘滞(zhi)留(liu)量降(jiang)低 90%。

        耐中子辐(fu)照(zhao)性(xing)能(neng)达 10²⁴ n/m²(ITER项目(mu)验(yan)证(zheng)数据(ju))。

        6、成本与供(gong)应(ying)链(lian)策(ce)略(lve)

        6.1 成本结构(gou)分析(xi)

        成本项3N5级占比(bi)4N5级占(zhan)比降本(ben)路(lu)径
        原(yuan)材料(liao)35%50%电(dian)子(zi)束(shu)熔(rong)炼(lian)余(yu)料回(hui)收(>90%)
        加工(gong)损(sun)耗25%30%增(zeng)材制(zhi)造(zao)(材(cai)料利用(yong)率↑30%)
        检(jian)测(ce)认证15%20%GDMS检(jian)测(ce)自动化(成(cheng)本(ben)↓40%)

        6.2 全球(qiu)供(gong)应(ying)链(lian)地(di)图(tu)

        高端(duan)供(gong)应(ying)商(shang):

        日本东(dong)邦钛(5N级(ji),市占(zhan)率(lv)60%)、美国(guo)ATI(4N5级,半导体(ti)专(zhuan)用)

        国产替(ti)代(dai):

        西部(bu)超(chao)导(dao)(4N级(ji)突(tu)破(po))、宝(bao)钛(tai)股(gu)份(3N5级量产)

        7、使用故(gu)障(zhang)树分(fen)析(xi)(FTA)

        常见问(wen)题:薄膜(mo)电(dian)阻(zu)率(lv)异常升(sheng)高(gao)

        根(gen)本(ben)原因(yin)排查路径:

        靶(ba)材氧(yang)含量(liang)超(chao)标(biao)(>500 ppm)→ 验证(zheng)GDMS报告(gao)

        晶粒(li)异(yi)常长(zhang)大(da)(>100 μm)→ SEM检测(ce) + EBSD分析(xi)

        背(bei)板热失配导致(zhi)开裂→ 红外(wai)热(re)成(cheng)像检查靶(ba)材(cai)温度梯度

        表(biao)面(mian)污(wu)染物(C≥0.1%)→ XPS表面(mian)成(cheng)分(fen)分析

        8、前沿研(yan)究方向(xiang)

        原子(zi)层沉积(ALD)钛(tai)前驱体:

        开(kai)发 TiCl₄+等(deng)离子体(ti)辅助 工艺,实现(xian)1nm级(ji)超薄钛膜(粗糙度≤0.3 nm)。

        再生循(xun)环技(ji)术:

        等(deng)离子体炬回(hui)收(shou)废(fei)靶(ba),杂(za)质(zhi)去除(chu)率(lv)>99.9%,成(cheng)本(ben)较(jiao)原生靶(ba)降低40%。

        高(gao)纯(chun)钛(tai)靶正从(cong)“材料(liao)科(ke)学”向“极(ji)限制(zhi)造”跃迁,3N5级已成为(wei)工业(ye)基(ji)准(zhun),4N5/5N级(ji)则(ze)在量(liang)子科(ke)技、聚变(bian)能等(deng)战(zhan)略领(ling)域(yu)展(zhan)现(xian)不(bu)可(ke)替(ti)代(dai)性。未(wei)来竞争将(jiang)聚(ju)焦(jiao)于(yu):

        超(chao)精密(mi)检测(ce):亚ppm级杂质原位分析(xi)技(ji)术(shu)

        智(zhi)能化生(sheng)产(chan):AI驱(qu)动(dong)的(de)熔(rong)炼参(can)数(shu)优化系(xi)统(tong)

        绿(lv)色制造(zao):零碳电(dian)子束(shu)熔(rong)炼(lian)工(gong)艺(yi)

        选(xuan)购时需(xu)建立“性(xing)能(neng)-成本(ben)-可(ke)追溯(su)性”三(san)维评(ping)估体系(xi),优先(xian)选(xuan)择具备(bei)自主熔炼(lian)技术及完(wan)整(zheng)检测(ce)链(lian)的(de)供应商(shang)。

        产(chan)品相册(ce) / Product album
        联(lian)系(xi)凯(kai)泽金属(shu) / Introduction
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